Основы кристаллографии, Чупрунов Е.В., Хохлов А.Ф., Фаддеев М.А., 2004

Основы кристаллографии, Чупрунов Е.В., Хохлов А.Ф., Фаддеев М.А., 2004.

   Последовательное изложение основ геометрической кристаллографии — аналитической геометрии кристаллических решеток, теории точечных групп симметрии, правильных систем точек, граней и других симметричных объектов, решеток Бравэ, пространственных групп симметрии, теории плотнейших упаковок. Рассматриваются также основы кристаллохимии и основные представления геометрической теории дефектов в кристаллах.
Для студентов физических и химических факультетов университетов, а также других высших учебных заведений, осваивающих дисциплину «Кристаллография».

Основы кристаллографии, Чупрунов Е.В., Хохлов А.Ф., Фаддеев М.А., 2004


Кристаллографические проекции.
Представление кристаллографического пространства в виде совокупностей взаимно параллельных узловых плоскостей и узловых рядов, среди которых есть плоскость или ряд, проходящие через начало координат, позволяет описать кристаллическую решетку в виде множества узловых плоскостей и узловых рядов, пересекающихся в одной точке. Аналогично, грани и ребра кристаллического многогранника, которые всегда параллельны соответствующим узловым плоскостям и узловым рядам решетки, можно изображать пересекающимися хотя бы в одной точке.

В кристаллографии разработаны удобные и информативные методы изображения на чертеже таких прямых и плоскостей. Подобные изображения получили названия кристаллографических проекций.

ОГЛАВЛЕНИЕ.
Предисловие.
Введение.
Глава 1. Геометрия кристаллического пространства.
1.1. Кристаллы и кристаллическое пространство.
1.2. Кристаллическая решетка.
1.3. Индексы узлов решетки, узловых рядов и узловых плоскостей.
1.4. Первая основная теорема решетчатой кристаллографии.
1.5. Обратная решетка.
1.6. Вторая основная теорема решетчатой кристаллографии. Некоторые расчетные формулы аналитической геометрии кристаллического пространства.
1.7. Условие параллельности узлового ряда и узловой плоскости. Закон зон.
1.8. Преобразование координат точек и индексов узловых плоскостей кристаллического пространства при изменении базиса кристаллографической системы координат.
1.9. Применение обратной решетки для описания дифракции волн на кристаллической решетке.
1.10. Кристаллографические проекции.
Глава 2. Точечная симметрия твердых тел.
2.1. Понятие о симметрии.
2.2. Основные положения теории групп.
2.3. Точечная симметрия кристаллов.
2.4. Матричный метод описания операций симметрии.
2.5. Точечные операции симметрии кристаллического пространства.
2.6. Умножение операций точечной симметрии.
2.7. Кристаллографические точечные группы симметрии. Некубические группы.
2.8. Кристаллографические точечные группы симметрии. Кубические группы.
2.9. Сингонии. Международные обозначения точечных групп.
2.10. Влияние точечной симметрии кристалла на геометрию кристаллической решетки.
2.11. Кристаллографические системы координат.
2.12. Икосаэдрические точечные группы симметрии.
2.13. Черно-белые и цветные точечные группы симметрии.
2.14. Предельные группы симметрии (группы Кюри).
2.15. Суперпозиция групп симметрии. Принцип Кюри.
Глава 3. Орбиты точечных групп симметрии.
3.1. Орбиты кристаллографических групп.
3.2. Описание множества неподвижных точек кристаллического пространства, отвечающих элементам симметрии.
3.3. Кристаллические многогранники. Закон рациональных отношений.
3.4. Простые формы некубических кристаллов.
3.5. Простые формы кубических кристаллов.
3.6. Икосаэдрические простые формы.
3.7. Различие одинаковых простых форм в разных точечных группах симметрии.
Глава 4. Пространственная симметрия кристаллических структур.
4.1. Решетки Бравэ.
4.2. Решетки Бравэ в гексагональной сингонии.
4.3. Соотношения между примитивными и центрированными элементарными ячейками.
4.4. Операторный метод описания операций симметрии кристаллического пространства.
4.5. Операции симметрии атомных структур кристаллов. Зеркальные и скользящие отражения.
4.6. Операции симметрии атомных структур кристаллов. Обычные и винтовые повороты.
4.7. Операции симметрии атомных структур кристаллов. Инверсионные и зеркальные повороты.
4.8. Умножение операций пространственной симметрии кристаллических структур.
4.9. Пространственные (федоровские) группы симметрии кристаллических структур.
4.10. Орбиты пространственных групп.
4.11. Пространственные группы триклинной и моноклинной сингоний.
4.12. Пространственные группы ромбической сингонии.
4.13. Пространственные группы тетрагональной сингонии.
4.14. Гексагональные пространственные группы.
4.15. Кубические пространственные группы.
Глава 5. Основы кристаллохимии.
5.1. Химические связи в кристаллах.
5.2. Системы кристаллохимических радиусов.
5 3. Принцип плотнейшей упаковки. Одномерная и двумерная упаковки одинаковых шаров.
5.4. Двухслойная и трехслойная упаковки одинаковых шаров в пространстве.
5.5. Симметрия двухслойной и трехслойной плотнейших упаковок одинаковых шаров.
5.6. Координаты шаров и пустот в двухслойной и трехслойной упаковках.
5.7. Многослойные плотнейшие упаковки одинаковых шаров.
5.8. Плотнейшие упаковки шаров двух сортов. Полиэдрический метод описания кристаллических структур.
5.9. Понятие о структурном типе. Структурные типы кристаллов химических элементов.
5.10. Структурные типы соединений с общей формулой АХ.
5.11. Структурные типы соединений типа А2Х и АХ2.
5.12. Некоторые структурные типы соединений АтВп Сk.
5.13. Полиморфизм.
5.14. Кристаллические структуры аллотропных модификаций углерода.
5.15. Фуллерены, фуллериты, фуллериды. Углеродные нанотрубки.
5.16. Изоморфизм. Морфотропия.
5.17. Твердые растворы.
5.18. Основные положения кристаллохимии органических соединений.
5.19. Кристаллические структуры комплексных и металлоорганических соединений.
5.20. Псевдосимметрия кристаллических структур.
5.21. Квазикристаллы.
Глава 6. Дефекты в кристаллах.
6.1. Классификация дефектов.
6.2. Точечные дефекты — вакансии и междоузельные атомы.
6.3. Линейные дефекты — дислокации.
6.4. Контур и вектор Бюргерса.
6.5. Напряжения, необходимые для образования дислокаций в совершенном кристалле.
6.6. Движение дислокаций.
6.7. Напряжения, связанные с дислокациями. Энергия дислокаций.
6.8. Источники дислокаций.
6.9. Взаимодействие дислокаций с точечными дефектами.
6.10. Двумерные дефекты в кристаллах — дефекты упаковки, малоугловые границы.
Глава 7. Структура реальных кристаллов, частично упорядоченных и аморфных тел.
7.1. Монокристаллы и поликристаллы.
7.2. Зонарное и секториальное строение кристаллов.
7.3. Кристаллы-двойники.
7.4. Аморфные твердые тела.
7.5. Жидкие кристаллы.
Приложение.
Список литературы.
Список дополнительной литературы.



Бесплатно скачать электронную книгу в удобном формате, смотреть и читать:
Скачать книгу Основы кристаллографии, Чупрунов Е.В., Хохлов А.Ф., Фаддеев М.А., 2004 - fileskachat.com, быстрое и бесплатное скачивание.

Скачать pdf
Ниже можно купить эту книгу по лучшей цене со скидкой с доставкой по всей России.Купить эту книгу



Скачать - pdf - Яндекс.Диск.
Дата публикации:





Хештеги: :: :: :: :: ::


Следующие учебники и книги:
Предыдущие статьи: