Методы и средства повышения надежности модулей памяти компьютеров, монография, Волобуев С.В., Евдокимов А.П., Меликов А.В., Рябцев В.Г., Шубович А.А., 2018.
Предлагается структура модулей памяти со встроенными средствами самотестирования и восстановления работоспособности при многократных отказах, что позволит выполнить замену разрядов данных основного массива запоминающих ячеек, в которых произошли отказы, на данные, поступающие с выходов запасного массива запоминающих ячеек. Автоматическую реконфигурацию структуры модулей памяти при обнаружении отказов обеспечивают предложенные аппаратные и программные средства.
Приведены особенности алгоритмов тестов, предназначенных для выполнения диагностирования микросхем и модулей памяти. Приведены особенности синтаксиса машинно-ориентированного языка Prover, транслятора программ тестов в среду автоматизированного проектирования цифровых систем Active-HDL и средства визуализации результатов моделирования. Монография предназначена для студентов и аспирантов университетов и специалистов по диагностированию модулей памяти компьютеров.
Монография выполнена при финансовой поддержке гранта РФФИ.
