Современное материаловедение невозможно представить без оптических и электронномикроскопических методов количественной и качественной оценки макро- и микроструктур изделий из различных материалов на разных этапах их существования - от контроля технологических операций при изготовлении до конечных стадий эксплуатации, а зачастую и после выхода их из строя. Основные методы и инструменты при этом следующие. Изучение макроструктуры: изломов, поверхностей трения и разрушения, крупногабаритных протравленных сечений при небольших (до 10 крат) увеличениях. Микроструктурные исследования методами световой микроскопии при увеличениях 10...2000 крат с помощью светооптических приборов разных типов. Возможности этого метода ограничены предельным разрешением (то есть, минимальным различаемым расстоянием между двумя точками) около 0,2 мкм. Это связано с волновой природой видимого светового излучения: из-за дифракционных явлений детали структуры, имеющие размеры меньше длины световой волны (500 нм), становятся неразличимыми.
