В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности. а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
